近场天线测量系统和远场天线测量系统的区别
2021-08-31 18:05:24 点击：
按照天线场区的划分，天线测量系统可分为近场测量系统和远场测量系统。两者的特性和指标如下：
1.天线应用领域2.远场角度范围：远场波瓣图坐标系、各种天线性能参数定义、副瓣和后瓣特性；
3.电尺寸：根据电尺寸和计算出远场距离；
4.方向性指标：宽波瓣或窄波瓣；
5.工作频率和带宽：工作频率设计到吸波材料尺寸和暗室工程设计及造价；
6.环境和安全性要求：天气、地表环境等因素；
7.其他因素：转台或铰链、通道切换开关等。
近场测量系统和远场测量系统主要功能：
近场测量在天线辐射近场区域实施。在三至五个波长的辐射近场区，感应场能量已完全消退。采集这一区域被测天线辐射的幅度和相位数据信息，通过严格的数学计算就可以推出被测天线测远场方向图。
按照扫描方式的不同，常用的近场测量系统可以分为平面近场系统、柱面近场系统和球面近场系统。
近场测量系统
平面近场测量系统在辐射近场区的平面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于增益>15dBi的定向天线、阵列天线等，最大测量角度<±70o。
柱面近场测量系统在辐射近场区的柱面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于扇形波束和宽波瓣的天线。
球面近场测量系统在辐射近场区的球面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于低增益的宽波瓣或全向天线。
远场测量系统
按使用环境可分为室外远场测量系统和室内远场测量系统。
室外远场需要较长的测量距离，通常用天线高架法来尽量减小地面反射，其他架设方法还有地面反射法和斜距法。室外远场测量需要在合适的外部环境和天气下进行，同时，室外远场对安全和电磁环境有较高要求。
室内远场在微波暗室中进行，暗室四周和上下铺设吸波材料来减小电磁反射。如果暗室条件满足远场测量条件，可选择传统远场测量法，如果测量距离不够远场条件，可以选择紧缩场，通过反射天线在被测天线处形成平面电磁波。